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主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。加速老化壽命試驗的目的是提高環境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷等)，加快試驗過程，縮短產品或系統的壽命試驗時間。
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TC-PCT-300加速老化試驗箱
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型號 |
TC-PCT-300 | TC-PCT-350 | TC-PCT-400 | ||||
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控制器 |
采用 7″TFT真彩LCD觸摸屏 | ||||||
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分辨率 |
溫度：0.1壓力：指針式0.1 | ||||||
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控制穩定度 |
溫度：±0.5℃，濕度：100% | ||||||
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內箱材質 |
SUS316#不銹鋼 | ||||||
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外箱材質 |
高級鋼板烤漆或不銹鋼（依客戶選擇） | ||||||
| 尺寸（cm） |
內箱 |
Φ30×D50 | Φ35×D50 | Φ40×D50 | |||
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外箱 |
W90×H100×D160 | W95×H100×D165 | W100×H100×D165 | ||||
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溫度范圍 |
110℃～132℃ | ||||||
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濕度范圍 |
100%RH飽和蒸氣 | ||||||
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壓力范圍 |
表壓力+0.5～2.5kg/cm2 | ||||||
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加壓時間 |
大約45分鐘 | ||||||
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循環方式 |
水蒸氣自然對流循環 | ||||||
